静电抗扰度测试的测试要求之测试目的
静电放电可能引起电场磁场的变化，造成设备误动作，也可能会通过能量交换引起半导体器件的损坏。因此本试验旨在通过模拟操作人员或物体在接触EUT时的放电来检测产品的静电放电抗扰度能力。
静电抗扰度测试的测试要求之测试依据
1、用户文档
测试依据的用户文档主要有以下三个：《产品技术要求》和/或《需求映射表》 、《产品包需求》可测试性需求、《整体测试方案》
2、测试技术标准规范
GB/T18268.1-2010 测量、控制和实验室用的电设备电磁兼容性要求第1部分：通用要求
GB17626.2-2006 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验
GB/T4365-2003 电工术语 电磁兼容
静电抗扰度测试的测试要求之评判标准
评判结果分为以下四类
1 在厂家或用户规定的技术范围内性能正常。
2 功能或性能暂时降低，但在骚扰停止后EUT能自行恢复，无需操作者干预。
3 功能暂时丧失或性能暂时降低，但需操作者干预才能恢复正常。
4 因硬件或软件损坏，或数据丢失而造成不能自行恢复至正常状态的功能降低或丧失。
其中，1&2两项为可接受结果，3&4两项为不可接受结果。